温度冲击试验箱
名称：温度冲击试验箱
型号：HTC520-II
概述
本系列产品是根据用户要求设计制造，广泛用于航空、航天
、汽车、
IT、电子、电工产品等模拟试品在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等。
引用标准
GJB 150.1A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第1部分：总则
GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验
GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验
GJB 150.9A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验
GJB 367A-2001 军用通信设备通用规范 附录A 常用的一般环境试验方法
GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件
GB2423 电工电子环境测试标准
主要技术参数
1. 提篮尺寸：长600× 宽600 ×高600（单位：mm）
2. 提篮负重：≥30kg
3. 温度冲击范围：低温-55℃，高温+125℃
4. 提篮转换时间：≤10s
5. 试件转换后，温度重新稳定能力：≤5min
6. 温度范围：低温箱：最低温度-70℃ 高温箱：最高温度200℃
7. 温变速率：
a）低温箱：在常温～-55℃范围内，降温速率≥1.5℃/min（全程平均）
b）高温箱：在常温～+85℃范围内，升温速率≥2℃/min （全程平均）。
